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■ TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產(chǎn)品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內(nèi)阻選擇和強大的測試功能, 可滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進貨檢驗及元件設(shè)計和評估的測量要求。
高速測量
■ 本產(chǎn)品運用了元件測試領(lǐng)域的技術(shù)，測試能力可達到甚至超越Agilent 4363B的水平，提供了的zui高測量速度15ms/次，尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題，為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。
多種可選的信號源阻抗模式
■ 不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結(jié)果，TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應(yīng)不同的需要，保證不同儀表間測試結(jié)果的*性。
恒電平模式適用于多層陶瓷電容器(MLCC)的測量
■ 陶瓷電容器（MLCC）對測試信號電平極為敏感，TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器，允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試，100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。
強大的變壓器測試能力
■ TH2825A具備變壓器測試能力，使用專門的變壓器測試夾具，無須改變測試線方式便可方便地測量匝數(shù)比（N， 1/N）、互感（M）、初次級電感（LA、LB），初次級直流電阻（DCR2）。有-5V-5V偏置電壓（僅TH2825A），可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。
■ 該產(chǎn)品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent
與儀表的接口兼容性
型號 | TH2825A | ||
顯示器 | 240x64點陣LCD顯示器，5位讀數(shù)分辨率 | ||
測試參數(shù) | LCR 參數(shù) | |Z|,R, X, G, B, C, L, Q, D, θ(deg),θ(rad),DCR | |
變壓器參數(shù) | DCR，DCR2，M, N，1/N，LA，LB | ||
測試頻率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz, 40kHz, 50kHz,100kHz, 共10點 | ||
測試電平 | 10mVrms-1.0 Vrms, 1mV 步進＜200mV 10mV 步進≥200mV | ||
信號源內(nèi)阻 | 25Ω，100Ω， 25Ω/100Ω，C. V.（恒壓） | ||
DC偏置電流（≥1kHz） | 當100Ω內(nèi)阻時，±50mA Max當25Ω內(nèi)阻時，±200mA Max | ||
基本測量準確度 | 0.1% | ||
| |Z|, R, X | 0.01 mΩ — 99.99MΩ | |
| G, B | 0.0001μS — 999.99 S | |
| C | 0.001pF — 1.9999 F | |
| L | 0.001μH — 99.9999 kH | |
| Q | 0.0001 — 9999 | |
顯示范圍 | D | 0.0001 — 9999 | |
θ(DEG) | -180.00° — 180.00° | ||
| θ(RAD) | -3.1415 — 3.1415 | |
| Δ% | -999.99% — 999.99% | |
| Turns Ratio | 0.001—9999.9 | |
| DCR | 0.1 mΩ—99.99 MΩ | |
| M,L2 | 0.001μH—99.99 kH | |
測量速度（≥100Hz） | 快速:15ms（注1）,中速:66ms, 慢速:500ms | ||
等效電路 | 串聯(lián), 并聯(lián) | ||
量程方式 | 自動, 保持/手動切換 | ||
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動, 外部，總線 | ||
平均次數(shù) | 1—255 | ||
校準功能 | 開路, 短路, 負載校正 | ||
測量端 | 5端 | ||
顯示方式 | 直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監(jiān)示) , 檔號及檔計數(shù) | ||
列表掃描 | 4點頻率, 電平列表掃描測試 | ||
比較器功能 | 九檔（八檔合格，一檔不合格） | ||
上超/合格/下超比較器 | |||
存儲器 | 12組內(nèi)部儀器設(shè)定供存儲/調(diào)用 | ||
接口 | RS-232C, HANDLER, GPIB (選件) | ||
| 4263B*兼容，為與4263B的互換提供了良好的條件。 | ||
| 注1：快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數(shù)小字符顯示比較判別。若包括測試參數(shù)大字符顯示，zui快測試時間另加5ms。 | ||
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